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CPJ-3010Z正像測量投影儀

時間:2021-05-13 10:22:08 點擊:0 作者:sg2020
  

CPJ-3010Z正像測量投影儀 特點和應用方向

顯微鏡特點:
CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像,測量簡易直觀,效率高。儀器光學質量優良,物鏡成清晰,放大倍率準確。

CPJ-3010Z正像測量投影儀 產品參數

正像測量投影儀 CPJ-3010Z詳細介紹

一、正像 CPJ-3010Z參數

投影屏

尺寸(mm)

Ø312,使用范圍 > Ø300 (刻有米字線)。

旋轉范圍

0~360º

數顯解析度

1’或0.01º

物鏡參數

放大倍數

10x(標)

20x(選)

50x(選)

100x()

物方線視場(mm

φ30

φ15

φ6

φ3

物方工作距(mm

77.7

44.3

38.4

25.3

工作臺

臺面尺寸(mm)

306*152

玻璃臺面尺(mm)

175*100

X座標行程(mm)

100

Y座標行程(mm)

50

Z座標行程(調焦用)(mm)

90(調焦)

儀器測量精度(μm)

3+L/75(L為被測長度,單位:mm)

XY座標數顯解析度:0.5μm

數據處理系統

DC-3000 多功能數據處理系統,全中文顯示可做多點采樣,座標旋轉,點、線、距離,角度檢測

照明系統

透射與反射照明光源均為24V150W鹵素燈

冷卻方式

強制風冷(3軸流風扇)

外形尺寸

770*550*1100

儀器重量

125kg

 

二、注意事項

1

建議放置臺:載重需≥250kg,尺寸(長XX高)800*550*650(mm)

 原舊站參數地址:

“用戶的需要就是我們的追求”

上海光學儀器廠(簡稱:上光)坐落在上海楊浦區,現屬上海光學儀器研究所管轄生產型制造公司。上海光學儀器研究所擔負光學儀器新產品研制和開發,曾為上海光學儀器廠研制開發出各類光學儀器產品

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